Aeris 系列(lie)帕納科臺式(shi)X射線(xian)衍射儀

Aeris 研究(jiu)版提(ti)供的快速(su)、可靠和準確(que)的材料分析。 監測新(xin)合成材料中的物(wu)相，測定藥物(wu)中的多(duo)態性。 還可使用 Aeris 向學(xue)生傳授(shou)粉末衍射基礎(chu)知識。 

研究數據 
無論您(nin)從事哪種(zhong)(zhong)項(xiang)目(mu)，從目(mu)標樣(yang)品中快速獲取(qu)物相信息(xi)對于(yu)您(nin)的研究至關重(zhong)要。 您(nin)只需使用(yong) Aeries 收集 X 射(she)線衍射(she)數據，然(ran)后(hou)應(ying)用(yong) HighScore 軟(ruan)件獲取(qu)各種(zhong)(zhong)結晶信息(xi)即可。 

輕松觸控直觀的X射(she)線衍射(she)儀 

Aeris 是操作簡單、用戶友好的臺(tai)式 X 射線衍(yan)射儀。

 Aeris 的(de)(de)操作(zuo)直(zhi)觀，人人都可(ke)輕松(song)進行 X 射線(xian)衍(yan)射分析。 *的(de)(de)觸(chu)摸屏用(yong)戶(hu)界面讓(rang)您輕松(song)完成(cheng)樣品(pin)的(de)(de)測量過程。 只(zhi)需輕點(dian)幾下即(ji)可(ke)為您顯示(shi)結果： 
1. 放(fang)置樣品 
2. 選擇測(ce)量程序 
3. 查(cha)看(kan)結果

Aeris 是完(wan)成粉末樣品快速可(ke)靠物相鑒(jian)別和 Rietveld 分析的一把利器。 Aeris 研究版(ban)所(suo)采用的技術(shu)已(yi)在(zai)帕納(na)科的系統(tong)上證明了其(qi)優(you)勢，因而(er)能夠提(ti)供(gong)以前只能通過整體落地式系統(tong)獲得的數據(ju)質量。

使用可(ke)(ke)選的 2D 檢測(ce)器，您可(ke)(ke)以可(ke)(ke)視方(fang)式教授(shou)粉末衍射基(ji)礎知識。 

Aeris 十分靈活，可執行各(ge)種(zhong)(zhong)粉末(mo)衍射(she)測(ce)量。 該儀器可以(yi)容納各(ge)種(zhong)(zhong)與(yu)進樣器配合使用的樣品杯，對基礎設施的要求(qiu)zui低(di)

無(wu)需(xu)冷(leng)卻水(shui)、冷(leng)卻器或壓縮空氣 - 僅需(xu)一個單相電源插座。